產(chǎn)品展示

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  MKY-CSJJ-1可控硅測試夾具

  MKY-CSJJ-1可控硅測試夾具 概述 1.1 適用范圍 本測試夾具適用于大電流可控硅和整流元件的電參數(shù)測試。 1.2 產(chǎn)品特點(diǎn) 結(jié)構(gòu)簡單牢固、使用方便、易于維修。 2 技術(shù)參數(shù) 2.1 極板直徑: 100mm、 2.2 行程：40mm 2..3壓力: 10噸 2.4 外型尺寸: 375×165×600mm 2.5 重量: 30kg

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  MKY-DBC-352晶閘管少子壽命測試儀

  MKY-DBC-352晶閘管少子壽命測試儀 適用范圍及特點(diǎn) 用于測試可控硅或PN結(jié)（二極管）的長基區(qū)少子壽命。 數(shù)字顯示測試結(jié)果，自動測試。 主要參數(shù) 少子壽命測量范圍：0.1-99us 外形尺寸：440X440X150mm 整機(jī)重量：10kg

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  MKY-DBC-094晶閘管關(guān)斷時間測試儀

  MKY-DBC-094晶閘管關(guān)斷時間測試儀 適用范圍及特點(diǎn) 用于測試可控硅的關(guān)斷時間。 數(shù)字顯示測試結(jié)果，自動完成測試。 主要參數(shù) 關(guān)斷時間測量范圍： 5-500us 外形尺寸：600X600X1250mm 整機(jī)重量：32kg

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  MKY-DBC-051晶閘管dv/dt測試儀

  MKY-DBC-051晶閘管dv/dt測試儀 適用范圍及特點(diǎn) 用于測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅和可控硅模塊的斷態(tài)電壓臨界上升率dV/dt。 數(shù)字顯示斷態(tài)峰值電壓VDM 。 主要參數(shù) 測量范圍： 斷態(tài)峰值電壓VDM 0-2000V； 電壓臨界上升率dV/dt 30-1000V/us 外形尺寸：440X440X150mm 整機(jī)重量：15kg

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  MKY-DBC-013B晶閘管通態(tài)降壓測試儀

  MKY-DBC-013B晶閘管通態(tài)降壓測試儀 適用范圍及特點(diǎn) 主要參數(shù) ◇ 用于測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅、可控硅模塊的通態(tài)峰值電流ITM和峰值壓降VTM ◇ 用于測試整流管的正向峰值電流IFM和峰值壓降VFM。 數(shù)字顯示測試結(jié)果，自動測試。 通態(tài)峰值電流值測試前可準(zhǔn)確設(shè)定，并具有良好的測試重復(fù)性。 峰值電流測量范圍： 100-9000A 峰值壓降測量范圍： 0-7V

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  MKY-DBC-013AC晶閘管伏安特性測試儀

  MKY-DBC-013AC晶閘管伏安特性測試儀 主要參數(shù) 峰值電流測量范圍： 30-3000A 峰值壓降測量范圍： 0-7V 外形尺寸： 440×440×150mm 2箱 整機(jī)重量： 35kg

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  MKY-DBC-023C晶閘管阻斷電壓測試儀

  MKY-DBC-023C晶閘管阻斷電壓測試儀 參數(shù)： 正向斷態(tài)和反向阻斷電壓測量范圍：0-8000V 正向斷態(tài)和反向阻斷電流測量范圍：0-199mA 保護(hù)電流設(shè)定:0-199mA 外形尺寸：600×600×1000mm 整機(jī)重量：80kg

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  MKY-DBC-023B晶閘管伏安特性測試儀

  MKY-DBC-023B晶閘管伏安特性測試儀 主要參數(shù) 正向斷態(tài)和反向阻斷電壓測量范圍： MKY-DBC-023A 0-3000V MKY-DBC-023B 0-6000V 正向斷態(tài)和反向阻斷電流測量范圍： MKY-DBC-023A 0-99mA MKY-DBC-023B 0-199mA 保護(hù)電流設(shè)定: MKY-DBC-023A 0-99mA MKY-DBC-023B 0-199mA

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